초록
이 연구에서는 면접 점수가 발생되는 통계적 모형을 사영에 근거하여 제시하였다. 이 모형은 피면접자의 개인별 참값과 이와 관련된 변수값이 2차원 평면의 X와 Y축의 값으로 주어졌을 때, 심사위원의 시각을 X축과의 각도로 생각하여 이 축에 사영된 값으로서 심사위원의 면접 점수의 평균으로 잡는 방법이다. 이 값에 개인적 편향과 관측 오차를 더해져 심사위원의 관측 면접 점수가 얻어지게 된다. 이 통계적 모형을 사용하여 흔히 사용되고 있는 면접 점수 표준화 방법인 절사평균법, 순위평균법, z-점수평균법을 비교하였다. 이 모의실험에서는 두 가지 면접 형태, 두 가지 면접자 수, 두 가지 면접자의 전문성 정도, 실제 점수와 관련된 변수 간의 분포 두 가지와 세 가지 상관계수가 고려되었다.
In this study, we propose a statistical model based on projection that generates interview scores. In this model, each interviewee's true score and its related variable are viewed as X, Y values respectively in the two dimensional plane, and each interviewer's score is the projected score of true score X to the axis rotated by some angle, which reflects the interviewer's perspective. Each interviewer's observed interview score is obtained by adding personal bias and observed error to this projected score. We compared commonly used standardizing methods of interview scores such as trimmed mean method, rank method, and z-score method based on the proposed statistical model. In this simulation, two types of interview methods, two numbers of interviewers, two degrees of interviewers' expertise and two distributions and three correlations between actual score and its related variable are all considered.