References
- A. Kolmakov, D. O. Klenov, Y. Lilach, S. Stemmer, and M. Moskovits, Nano. Lett., 667, 5 (2005).
- M. C. McApline, H. Ahmad, D. Wang, and J. R. Heath, Nature Mater., 379, 6 (2007).
- K. W. Kim, P. C. Debnath, S. S. Kim, and S. Y. Lee, Appl. Phys. Lett., 98, 113109 (2011). https://doi.org/10.1063/1.3567795
- K. S. Yoo, J. Kor. Sensor. Soc., 5, 5 (1996).
- N. Yamazoe and K. Shimanoe, Sensor. Actuat., B138, 100 (2009).
- K. Vanheusden, W. L. Warren, C. H. Seager, D. R. Tallant, J. A. Voigt, and B. E. Gnade, J. Appl. Phys., 79, 7983 (1996). https://doi.org/10.1063/1.362349
- A. Janotti and C. G. V. D. Walle, Appl. Phys. Lett., 87, 122102 (2005). https://doi.org/10.1063/1.2053360
- L. Binet and D. Gourier, J. Phys. Chem. Solids., 59, 1241 (1998). https://doi.org/10.1016/S0022-3697(98)00047-X
- D. C. Look, J. W. Hemsky, and J. R. Sizelove, Phys. Rev. Lett., 82, 2552 (1999). https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.82.2552
- K. W. Kim, Y. W. Song, S. P. Chang, I. H. Kim, S. S. Kim, and S. Y. Lee, Thin Solid Films., 518, 1190 (2009). https://doi.org/10.1016/j.tsf.2009.03.229
- G. H. Lu, L. E. Ocola, and J. Chen, Adv. Mater., 21, 2487 (2009). https://doi.org/10.1002/adma.200803536
- P. C. Chen, S. Sukcharoenchoke, K. Ryu, L. G. D. Arco, A. Badmaev, C. Wang, and C. Zhou, Adv. Mater., 22, 1900 (2010). https://doi.org/10.1002/adma.200904005
- Z. Yang, Y. Huang, G. Chen, Z. Guo, S. Chengb, and S. Huang, Sensor. Actuat., B140, 549 (2009).
- W. T. Lim, J. S. Wright, B. P. Gila, J. L. Johnson, A. Ural, T. Anderson, F. Ren, and S. J. Pearton, Appl. Phys. Lett., 93, 072109 (2008). https://doi.org/10.1063/1.2975173
- T. J. Hsueh and S. J. Chang, Appl. Phys. Lett., 91, 053111 (2007). https://doi.org/10.1063/1.2757605
- L. V. Thonga, N. D. Hoaa, D. T. T. Lea, D. T. Vieta, P. D. Tamb, A. T. Leb, and N. V. Hieua, Sensor. Actuat., B146, 361 (2010).