고속 정적 RAM 명령어 캐시를 위한 방사선 소프트오류 검출 기법

Radiation-Induced Soft Error Detection Method for High Speed SRAM Instruction Cache

  • 권순규 (성균관대학교 정보통신공학부) ;
  • 최현석 (성균관대학교 정보통신공학부) ;
  • 박종강 (성균관대학교 정보통신공학부) ;
  • 김종태 (성균관대학교 정보통신공학부)
  • 투고 : 2010.05.04
  • 심사 : 2010.06.07
  • 발행 : 2010.06.30

초록

본 논문에서는 슈퍼스칼라 구조를 가진 시스템의 명령어 캐시에서 효율적으로 소프트오류를 검출할 수 있는 기법을 제안한다. 명령어 캐시로 주로 사용되는 고속 정적 RAM(Random Access Memory)에 적용할 수 있으며 1D 패리티와 인터리빙을 통해 기존 기법들과 비교하여 더 적은 메모리 오버헤드로 연집오류를 검출할 수 있다. 정적 RAM에서는 소프트오류의 발생만을 확인하고 검출된 소프트오류의 정정은 명령어 캐시의 캐시 미스와 같이 처리하여 하위 메모리로부터 명령어들을 다시 인출하는 방식이다. 이를 통해 명령어 캐시의 성능에 영향을 주지 않으면서 연집오류를 검출하고 정정할 수 있으며 최대 4$\times$4의 윈도우 내에서 발생된 연집오류를 검출 할 수 있다. 제안된 방식을 이용하면 256비트 $\times$ 256비트 크기의 메모리에서 기존의 4-way 인터리빙 기법에서 검출에 필요한 패리티 크기의 25%만으로도 동일한 4비트의 연집오류를 검출 할 수 있다.

In this paper, we propose multi-bit soft error detection method which can use an instruction cache of superscalar CPU architecture. Proposed method is applied to high-speed static RAM for instruction cache. Using 1D parity and interleaving, it has less memory overhead and detects more multi-bit errors comparing with other methods. It only detects occurrence of soft errors in static RAM. Error correction is treated like a cache miss situation. When soft errors are occurred, it is detected by 1D parity. Instruction cache just fetch the words from lower-level memory to correct errors. This method can detect multi-bit errors in maximum 4$\times$4 window.

키워드

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