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A Calculation of the Cosmic Radiation Dose of a Semiconductor in a Geostationary Orbit Satellite Depending on the Shield Thickness

차폐체 두께에 따른 정지궤도위성용 반도체의 우주방사선 피폭 계산

  • 허정환 (제주대학교 에너지공학과) ;
  • 고봉진 (제주대학교 에너지공학과) ;
  • 정범진 (제주대학교 에너지공학과)
  • Published : 2009.06.01

Abstract

Cosmic ray is composed of nuclear particles moving at a light speed. The cosmic ray affects the performance and the reliability of semiconductor devices by ionizing the semiconductor material. In this study, the radiation effects of protons, electrons, and photons, which compose the cosmic ray, on the GOS(Geostationary Orbit Satellite) were evaluated using the Monte-Carlo N-Particle code. The GOS was chosen due to the comparatively long exposure to the cosmic ray as it stays in the geostationary orbit more than 10 years. As the absorbed dose of semiconductor from electrons is much larger than those of protons, photons, and the secondary radiation, most of the radiation exposure of the semiconductors in the GOS results from that of electrons. When we compare the calculated absorbed dose with the radio-resistance of semiconductor, the Intel 486 of the Intel company is not suitable for the GOS applications due to its low radio-resistance. However RH3000-20 of MIPS and Motorola 602/603e can be applied to the Satellite when the aluminium shield is thicker than 3 mm.

Keywords

References

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