References
- B. Choi, H. Yoon, H.H. Lee, Appl. Phys. Lett., 76 (2000) 412 https://doi.org/10.1063/1.125771
- C. T. Lee, B. T. Tang, H. Y. Lee, Thin Solid Films, 386 (2001) 105 https://doi.org/10.1016/S0040-6090(01)00777-5
- Z. Z. You, J. Y. Dong, Microelectron. J., 38 (2007) 108 https://doi.org/10.1016/j.mejo.2006.09.019
- J. Schwarz, E. L. Bruner, N. Koch, A. R. Span, S. L. Bernasek, A. Kahn, Synth. Met., 138 (2003) 425
- X. H. Sun, L. F. Cheng, M. W. Liu, L. S. Liao, N. B. Wong, C. S. Lee, S. T. Lee, Chem. Phys. Lett., 370 (2003) 425 https://doi.org/10.1016/S0009-2614(03)00135-0
- I. M. Chan, T. Y. Hsu, F. C. Hong, Appl. Phys. Lett., 81 (2002) 1899 https://doi.org/10.1063/1.1505112
- T. J. Marks, J. G. C. Veinot, J. Cui, H. Yan, A. Wang, N. L. Edleman, J. Ni, Q. Huang, P. Lee, N. R. Armstrong, Synth. Met., 127 (2002) 29 https://doi.org/10.1016/S0379-6779(01)00593-8
- A. J. Freeman, K. R. Poeppelemier, T. D. Mason, R. P. H. Chang, T. J. Marks, MRS Bull., 25 (2000) 45
- J. S. Lim, P. K. Shin, Appl. Surf. Sci., 253 (2007) 2828
- S. M. Joeng, W. H. Koo, S. H. Choi, S. J. Jo, H. K. Baik, S. J Lee, K. M. Song, Thin Solid Films, 475 (2005) 227 https://doi.org/10.1016/j.tsf.2004.07.048
- U. Mitschke, P. Bauerle, J. Mater. Chem., 10 (2000) 1471 https://doi.org/10.1039/a908713c
- H. Heil, J. Steiger, S. Karg, M. Gastel, H. Ortner, H. V. Seggern, M. Stobel, J. Appl. Phys., 89 (2001) 420 https://doi.org/10.1063/1.1331651
- M. A. Baldo, M. E. Thompson, S. P. Forrest, Nature 403 (2000) 750 https://doi.org/10.1038/35001541
- B. S. Chiou, S. T. Hsieh, W. F. Wu, J. Am. Cera. Soc., 77 (1994) 1740 https://doi.org/10.1111/j.1151-2916.1994.tb07044.x
- G. K. Li, J. J. Shen, W. B. Mi, Z. Q. Li, P. Wu, E. Y. Jiang, H. L. Ba, Appl. Surf. Sci., 253 (2006) 425 https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2005.12.080
- S. Nakamura, T. Aoki, T. Kittaka, R. Hakamata, H. Tabuchi, S. Kunitsugu, K. Takarable, Thin Solid Films, 515 (2007) 8205 https://doi.org/10.1016/j.tsf.2007.02.038
- K. Noda, T. Hirata, T. Kawanabe, M. Naoed, Vacuum, 51 (1998) 687 https://doi.org/10.1016/S0042-207X(98)00275-9
- T. J. Vink, W. Walrave, J. L. C Daams, P. C. Baarslag, J. E. A. M. van den Meerakker, Thin Solid Films, 266 (1995) 145 https://doi.org/10.1016/0040-6090(95)06818-X
- S. Uthanna, P. S. Reddy, B. S. Naidu, P. J. Reddy, Vacuum, 47 (1996) 91 https://doi.org/10.1016/0042-207X(95)00199-9
- J. T. Kim, C. Yoon, S. H. Kim, H. T. Shin, EMRS 2008 Fall Meeting, (2008) 53
- Hamberg, C. G. Granqvist, J. Appl. Phys., 60 (1986) 1 https://doi.org/10.1063/1.337680