References
- S. B. Stringfellow, S. Gupta, C. Shaw, J. R. Alcock, and R. W. Whatmore, J. of the Eur. Cer. Soc. 22, 573 (2002) https://doi.org/10.1016/S0955-2219(01)00316-8
- R. Weinstein, US Patent 6083 885 (2000)
- R. Weinstein, and R. P. Sawh, Supercond. Sci. Technol. 15, 1474 (2002) https://doi.org/10.1088/0953-2048/15/10/401
- N. Hari Babu, M. Kambara, Y. Shi, D. A. Cardwell, C. D. Tarrant, and K.R. Schneider, IEEE Trans. on Appl. Supercond. 13, 3147 (2003) https://doi.org/10.1109/TASC.2003.812126
- M. Eder and G. Gritzner, Supercond. Sci. Technol. 13, 1302 (2000) https://doi.org/10.1088/0953-2048/13/9/303
- D. C. Huynh, D. T. Ngo, and N. N. Hoang, J. of Phys: Cond. Matters 19, 106215 (2007) https://doi.org/10.1088/0953-8984/19/10/106215
- N. N. Hoang, D. C. Huynh, T. T. Nguyen, D. T. Ngo, D. T. Nguyen, A. Fennie, and Nguyen Chau, Applied Phys. A 92, 715-725 (2008), DOI: 10.1007/s00339- 008-4631- y
- K. Yamada, J. Wada, S. Hosoya, Y. Endoh, S. Noguchi, S. Kawamata, and K. Okuda, Physica C 253, 135 (1995) https://doi.org/10.1016/0921-4534(95)00503-X
- Gaussian 03, Revision B.03, M. J. Frisch, G. W. Trucks, H. B. Schlegel, G. E. Scuseria, M. A. Robb, J. R. Cheeseman, J. A. Montgomery, Jr., T. Vreven, K. N. Kudin, J. C. Burant, J. M. Millam, S. S. Iyengar, J. Tomasi, V. Barone, B. Mennucci, M. Cossi, G. Scalmani, N. Rega, G. A. Petersson, H. Nakatsuji, M. Hada, M. Ehara, K. Toyota, R. Fukuda, J. Hasegawa, M. Ishida, T. Nakajima, Y. Honda, O. Kitao, H. Nakai, M. Klene, X. Li, J. E. Knox, H. P. Hratchian, J. B. Cross, C. Adamo, J. Jaramillo, R. Gomperts, R. E. Stratmann, O. Yazyev, A. J. Austin, R. Cammi, C. Pomelli, J. W. Ochterski, P. Y. Ayala, K. Morokuma, G. A. Voth, P. Salvador, J. J. Dannenberg, V. G. Zakrzewski, S. Dapprich, A. D. Daniels, M. C. Strain, O. Farkas, D. K. Malick, A. D. Rabuck, K. Raghavachari, J. B. Foresman, J. V. Ortiz, Q. Cui, A. G. Baboul, S. Clifford, J. Cioslowski, B. B. Stefanov, G. Liu, A. Liashenko, P. Piskorz, I. Komaromi, R. L. Martin, D. J. Fox, T. Keith, M. A. Al-Laham, C. Y. Peng, A. Nanayakkara, M. Challacombe, P. M. W. Gill, B. Johnson, W. Chen, M. W. Wong, C. Gonzalez, and J. A. Pople, Gaussian, Inc., Pittsburgh PA, 2003
- M. Viret, L. Ranno, and J. M. D. Coey, Journal of Applied Physics 81(8), 4964 (1997) https://doi.org/10.1063/1.365013
- N. N. Hoang, D. C. Huynh, and M. H. Phan, Solid State Commun. 139, 456 (2006) https://doi.org/10.1016/j.ssc.2006.07.011
- K. Maiti, D. D. Sarma, T. Mizokawa, and A. Fujimori, Phys. Rev. B 57, 1572 (1998) https://doi.org/10.1103/PhysRevB.57.1572
- D. R. Lines, M. T. Weller, D. B. Currie, and D. M. Ogborne, Mater. Res. Bull. 26, 323 (1991) https://doi.org/10.1016/0025-5408(91)90028-K
- N. N. Hoang, T. H. Nguyen, and Chau Nguyen, J. Appl. Phys. 103, 093524 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2917061