상(이미지)/회절도형 형성의 광학적 원리를 이해하기 위한 실험장치 제작

An Experimental Device for Understanding the Optical Principles of Image/Diffraction Formation

  • 김진규 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) ;
  • 정종만 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) ;
  • 김문창 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) ;
  • 최주형 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) ;
  • 김윤중 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부)
  • Kim, Jin-Gyu (Division of Electron Microscopic Research, Korea Basic Science Institute) ;
  • Jeong, Jong-Man (Division of Electron Microscopic Research, Korea Basic Science Institute) ;
  • Kim, Mun-Chang (Division of Electron Microscopic Research, Korea Basic Science Institute) ;
  • Choi, Joo-Hyoung (Division of Electron Microscopic Research, Korea Basic Science Institute) ;
  • Kim, Youn-Joong (Division of Electron Microscopic Research, Korea Basic Science Institute)
  • 발행 : 2007.09.30

초록

본 장치는 실험자가 레이저 빔과 광학 렌즈를 조정하여 이미지 및 회절도형의 형성, 보강 및 소멸간섭과 같은 파동광학 현상을 이해하도록 제작된 실험 장치이다. 실험장치는 광원으로 쓰이는 레이저빔과 빔의 광축을 정렬하는 광원 부분과 시료대, 대물렌즈, 중간렌즈, 확대렌즈, CCD system, 컴퓨터, 그리고 렌즈를 상하 조절하는 경통부분으로 구성된다. 본 장치를 통해서 다양한 회절격자의 이미지 및 회절도형을 최대 약 44배 확대할 수 있고, 최대 약 5um의 분해능을 가지고 분석할 수 있다. 이 장치는 전자현미경 이용자들이 TEM의 원리를 보다 쉽게 이해하는데 도움을 주리라 기대한다.

We have made an optical device to study the wave optics phenomena, such as image and diffraction pattern, constructive and destructive interference, by direct operation of laser beam and optical lenses. It consists of laser beam, goniometer, objective lens, intermediate lens, projection lens, CCD system, and computing system. As a result of the performance test, we were able to magnify samples up to 44 times with the resolution of about $5{\mu}m$. It is expected to help EM users understanding more easily principles of transmission electron microscopy (TEM).

키워드

참고문헌

  1. Dumas P and Cura V: Teaching crystallography with a laser, two lens and Einstein's tongue. Acta Cryst. A61 : C122. 2005
  2. Koo EH: 빛의 직진성 실험장치. KR 10-1997-0008473, 1997a.(Korean)
  3. Koo EH: 빛의 파동성 실험장치. KR 10-1997-0008474, 1997b.(Korean)
  4. Kum DW, Kim GH, Kim NJ, Kim DH, Kim YH, Park CG, Song SA, Lee BT, Lee YT, Lee JY, Lee HC, Lee HJ, Cho NH, Chun CH: 투과전자현미경 분석학-신소재 분석.평가. 청문각, 1-55. 1996. (Korean)
  5. Lee JY : 기초전자현미경. 대영사, 1-18. 2002.(Korean)
  6. Oh CH : 레이저과학. 두양사, 149pp. 2005. (Korean)
  7. Park MS : 기초광학기기실험. 상학당, 240pp. 2003. (Korean)
  8. Williams, DB and Carter, CB: Transmission Electron Microscopy-A Textbook for Materials Science. Plenum Press, New York and London, 729pp. 1995