Journal of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers (조명전기설비학회논문지)

The Korean Institute of IIIuminating and Electrical Installation Engineers (한국조명전기설비학회)
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On the TFT-LCD Cell Defect Inspection Algorithm using Morphology

모폴로지(Morphology)를 이용한 TFT-LCD 셀 검사 알고리즘 연구

  • 김용관 (호서대학교 정보통신공학과) ;
  • 유상현 (호서대학교 일반대학원 정보통신공학과)
  • Published : 2007.01.31
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Abstract

In this paper, we develope and implement a TFT-LCD cell defects detection algorithm using morphology. To detect the bright line or dark line defects and the bright pixel or dark pixel defects of the TFT-LCD cells, we determine the shape of the morphology operators considering the shape characteristics of the TFT-LCD sub pixels. Using dilation, erosion, and the subtraction operators, we extract gray level defects information. Then, we apply the optimal threshold method which shows the best results in terms of several criteria. Finally, we determine the defects using labelling method. From various experiments using TFT-LCD panels, the proposed algorithm shows superior results.

본 논문에서는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 셀의 라인 결함과 픽셀 결함을 검사할 수 있는 알고리즘을 개발하였다. 이때 LCD 셀의 브라이트 라인 결함, 다크 라인 결함, 브라이트 픽셀 결함, 다크 픽셀 결함들을 검출하기 위하여, 셀의 크기 특성을 고려한 모폴로지 연산자의 모양을 결정하고, 팽창 연산, 침식 연산 및 차분 기법을 이용하여 결함 정보를 추출하였다. 이후 다양한 실험을 통하여 결정된 적절한 임계값을 이용한 최적의 이진화 알고리즘을 적용하였다. 마지막으로 결함정보의 인식을 위한 라벨링 과정을 통하여, 결함들을 검출하였다. TFT-LCD 판넬의 다양한 검사 실험을 통하여, 본 논문에서 제안하는 알고리즘의 결함정보 검출 성능이 매우 우수함을 확인하였다.

Keywords

References

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