$XSiO_{2}{\cdot}YGeO_{2}$계 화합물과 $XSiO_{2}{\cdot}YNaO_{2}{\cdot}ZGeO_{2}$계 화합물을 제조하고 이들 화합물에서 $GeO_{2}$의 함량을 변화시켜 원적외선 방사율과 원적외선 방사에너지에 미치는 영향을 연구하였다. 제조된 시료의 특징은 TG-DTA, XRD, FT-IR spectrophotometer 그리고 FT-IR spectrometer에 의해 조사되었다. $XSiO_{2}{\cdot}YGeO_{2}$와 $XSiO_{2}{\cdot}YNaO_{2}{\cdot}ZGeO_{2}$계의 화합물은 $GeO_{2}$의 함량이 증가할수록 원적외선 방사율과 방사에너지가 점차적으로 증가하였다. 원적외선 방사율과 방사에너지는 $XSiO_{2}{\cdot}YGeO_{2}$계 화합물의 경우가 $XSiO_{2}{\cdot}YNaO_{2}{\cdot}ZGeO_{2}$계 화합물보다 높게 나타났다.
In order to study the effects of $GeO_{2}$ contents in $XSiO_{2}{\cdot}YGeO_{2}$ and $XSiO_{2}{\cdot}YNa_{2}O{\cdot}ZGeO_{2}$ compounds on far infrared ray radiation, we investigated the sample of $XSiO_{2}{\cdot}YGeO_{2}$ and $XSiO_{2}{\cdot}YNa_{2}O{\cdot}ZGeO_{2}$ using TG-DTA, XRD, FT-IR spectrophotometer and FT-IR spectrometer. The far infrared ray emissivity and emission power were increased with the increase of $GeO_{2}$ contents in $XSiO_{2}{\cdot}YGeO_{2}$ and $XSiO_{2}{\cdot}YNa_{2}O{\cdot}ZGeO_{2}$ compounds. The far infrared ray emissivity and emission power of $XSiO_2{\cdot}YGeO_2$ compounds were higher than those of $XSiO_{2}{\cdot}YNa_{2}O{\cdot}ZGeO_{2}$ compounds.