Abstract
The gate length-dependence of cutoff frequency is modeled by using scaling parameter equations of equivalent circuit parameters extracted from measured S-parameters of Nano-scale MOSFETs. It is observed that the modeled cutoff frequency initially increases with decreasing gate length and then the rate of increase becomes degraded at further scale-down. This is because the extrinsic charging time slightly decreases, although the intrinsic transit time greatly decreases with gate length reduction. The new gate length-dependent model will be very helpful to optimize RF performances of Nano-scale MOSFETs.
본 연구에서는 측정된 S-파라미터로부터 추출된 Nano-scale MOSFET 등가회로 파라미터의 scaling 방정식을 사용하여 차단주파수의 게이트 길이 종속성을 모델화하였다. 모델된 차단주파수는 게이트 길이가 줄어듬에 따라서 크게 증가하다가, 점점 증가율이 크게 감소하는 경향을 보였다. 이는 게이트 길이가 감소함에 따라 내부전달시간은 크게 줄어들지만, 외부 기생 충전시간은 상대적으로 조금씩 감소하기 때문이다. 이와 같은 새로운 게이트길이 종속 모델은 Nano-scale MOSFET의 RF성능을 최적화시키는 데 큰 도움이 될 것이다.