References
- A. W. Nelson and L. D. Westbrook, J. Crystal Growth, 68, 102 (1984) https://doi.org/10.1016/0022-0248(84)90404-4
- S. A. Stockman, G. E. Hfler, J. N. Baillargeon, K. C. Hsieh, K. Y. Cheong and G. E. Stillman, J. Appl. Phys., 72, 981 (1992) https://doi.org/10.1063/1.351776
- Y. Ashizawa, T. Noda, K. Morizuka, M. Asaka, A. W. Nelson and M. Obara, J. Crystal Growth, 107, 903 (1991) https://doi.org/10.1016/0022-0248(91)90578-S
- G. R. Moriaty, M. Murtagh, K. Cherkaoui, G. Gouez, P. V Kelly, G. M. Crean and S. W. Bland, Mater. Sci. Eng., B56, 284 (2001) https://doi.org/10.1016/S0921-5107(00)00642-5
- H. S. Lee, W. Y. Han, Y. Lu, M. W. Cole, R. T. Lareau, L. Casas, R. J. Thompson, A. DeAnni, K. A. Jones and L. W. Yang, Mat. Res. Soc. Sym. Proc., 240, 467 (1992)
- C. R. Abernathy, S. J. Pearton, F. Ren, W. S. Hobson, T. R. Fullowan, A. Katz, A. S. Jordan and J. Kovalchick, J. Crystal Growth, 105, 375 (1990) https://doi.org/10.1016/0022-0248(90)90389-3
- L. Q. Guo and M. Konagai, Jpn. J. Appl. Phys., 35, L 195 (1996) https://doi.org/10.1143/JJAP.35.L195
- R. M. Lum, J. K. Klingert, D. W. Kisker, S. M. Abys and F. A. Stevie, J. Crystal Growth, 93, 120 (1988) https://doi.org/10.1016/0022-0248(88)90516-7
- C. Anayama, H. Sekiguchi, M. Kondo, H. Sudo, T. Fukushima, A. Furuya and T. Tanahashi, Appl. Phys. Lett., 63, 1736 (1993) https://doi.org/10.1063/1.110699
- R. Bhat, C. E. Zah, C. Caneau, M. A. Koza, S. G. Menocal, S. A. Schwarz and F. J. Favire, Appl. Phys. Lett., 56, 1691 (1990) https://doi.org/10.1063/1.103119
- N. Y. Li, H. K. Dong, C. W. Tu and M. Geva, Crystal Growth, 150, 246 (1995) https://doi.org/10.1016/0022-0248(95)80215-X
- N. I. Buchan, T. F. Kuech, G. J. Scilla and F. Cardone, J. Crystal Growth, 110, 405 (1991) https://doi.org/10.1016/0022-0248(91)90276-B
- P. Kurpas, E. Richter, D. Gutsche, F. Brunner and M. Weyers, Inst. Phys. Conf. Ser., 145, 177 (1995)
- C. S. Son, S. I. Kim, Y. Kim, Y. K. Park, S. K. Min and I. H. Choi, J. Appl. Phys., 82, 1205 (1997) https://doi.org/10.1063/1.366264
- M. Kondo, C. Anayama, N. Okada, H. Sekiguchi, K. Domen and T. Tanahashi, J. Appl. Phys., 76, 914 (1994) https://doi.org/10.1063/1.357769