References
- R. J. Shul, G. B. McClellan, R. D. Briggs, D. J. Rieger, S. J. Pearton, C. R. Abernathy, J. W. Lee, C. Constantine and C. Barratt, J. Vac. Sci. Technol., A15, 633 (1997)
- B. T. Lee, C. H. Park, S. D. Kim and H. S. Kim, J. Korean Vac. Sci. Technol., 8(4), 541 (1999)
- H. S. Kim, G. Y. Yeom, J. W. Lee and T. I. Kim, Thin Solid Films, 341, 180 (1999) https://doi.org/10.1016/S0040-6090(98)01530-2
- T. Maeda, J. W. Lee, R. J. Shul, J. Han, J. Hong, E. S. Lambers, S. J. Pearton, C. R. Abernathy and W. S. Hobson, Appl. Surface Science, 143, 174 (1999) https://doi.org/10.1016/S0169-4332(98)00594-7
- P. G. Jung, W. T. Lim, G. S. Cho, M. H. Jeon, J. Y. Lira, J. W. Lee, K. S. Cho, J. Korean Vac. Sci. Technol., 11, 2 (2002)
- F. Ren, F. F. Kopf, J. M. Kuo, J. R. Lothian, J. W. Lee, S. J. Pearton, R. J. Shul, C. Constantine and D. Johnson, Solid State Electronics, 42, 749 (1998) https://doi.org/10.1016/S0038-1101(97)00292-X
- J. W. Lee, K. D. Mackenzie, D. Johnson, R. J. Shul, S. J. Pearton, C. R. Abernathy and F. Ren, Solid State Electronics, 42, 1027 (1998) https://doi.org/10.1016/S0038-1101(98)80025-7
- W. T. Lim, I. K. Baek, P. G. Jung, J. W. Lee, G. S. Cho, J. I. Lee, K. S. Cho and S. J. Pearton, Korean J. Materials Research, 13(4), 266 (2003) https://doi.org/10.3740/MRSK.2003.13.4.266
- J. W. Lee, C. R. Abernathy, S. J. Pearton, F. Ren, W. S. Hobson, R. J. Shul, C. Constantine and C. Barratt, J. Electrochem. Society, 144, 1417 (1997) https://doi.org/10.1149/1.1837356
- R. R. Stradtmann, J. W. Lee, C. R. Abenathy and S. J. Pearton, J. Electrochemical Society, 143(9), L119 (1996)
- F. Ren, J. W. Lee, C. R. Abernathy, S. J. Pearton, R. J. Shul, C. Constantine and C. Barratt, Semiconductor Sci. & Technol., 12, 1154 (1997) https://doi.org/10.1088/0268-1242/12/9/015
- K. N. Lee, J. W. Lee, J. Hong, C. R. Abernathy, S. J. Pearton and W. S. Hobson, J. of Electronic Materials, 26, 1279 (1997) https://doi.org/10.1007/s11664-997-0070-3
- S. B. Lee, H. G. Park, S. H. Lee, J. of KIEEME(in Korean), 11(4), 261 (1998)
- B. H. O, J. S. Jeong, S. G. Park, Surface and Coating Technology, 120, 752 (1999) https://doi.org/10.1016/S0257-8972(99)00370-9
- J. W. Lee, D. Hayes, C. R. Abernathy, S. J. Pearton, W. S. Hobson and C. Constantine, J. of Electrochem. Soc, 144, L245 (1997) https://doi.org/10.1149/1.1837932
- J. W. Lee, E. S. Lambers, C. R. Abernathy, S. J. Pearton, R. J. Shul, F. Ren, W. S. Hobson and C. Constantine, Materials Science in Semiconductor Processing, 1, 65 (1998) https://doi.org/10.1016/S1369-8001(98)00002-X
- F. Ren, D. N. Buckley, K. M. Lee, S. J. Pearton, R. A. Bartynski, C. Constantine, W. S. Hobson, R. A. Hamm and P. C. Chao, Solid State Electronics, 38(12), 2011 (1995) https://doi.org/10.1016/0038-1101(95)00033-P