융합신호처리학회논문지 (Journal of the Institute of Convergence Signal Processing)
- 제4권2호
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- Pages.61-69
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- 2003
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- 2765-1134(pISSN)
DC 파라메터 검사 시스템 설계에 관한 연구
A Study on the Design of DC Parameter Test System
초록
본 논문에서는 반도체 소자의 DC 파라메터에 대한 특성을 검사하는 DC 파라메터 검사 시스템을 개발하였다. 개발된 시스템은 IBM-PC와 연결하기 위한 CPLD(Complex Programmable Logic Device)로 구현된 연결부와 ADC/DAC부, 전압원/전류원, 가변저항부, 측정부로 구성되어 있다. 제안된 시스템에서 정전압원과 정전류원은 하나의 회로로 설계하여 외부의 컴퓨터에서 주어지는 모드명령에 의해 선택되도록 하였으며, VHDL(VHSIC Hardware Description Language)을 사용하여 회로를 제어하고 신호를 변환하는 기능을 CPLD로 설계하였다. 제안된 시스템은 두 개의 채널을 가지고 있으며, VFCS(Voltage Force Current Sensing) 모드와 CFVS(Current Force Voltage Sensing) 모드로 동작할 수 있도록 하였다. 검사 전압의 범위는 0(V)-10(V)까지이고, 검사전류의 범위는 0[mA]-100[mA]까지로 다이오드를 사용하여 설계된 회로의 성능을 검증하였다.
In this paper, we developed the U parameter test system which inspects the property of DC parameter for semiconductor products. The developed system is interfaced by IBM-PC. It is consisted of CPLD part, ADC (Analogue to Digital Converter), DAC (Digital to Analogue Converter), voltage/current source, variable resistor and measurement part. In the proposed system, we have designed the constant voltage source and the constant current source in a part. The CPLD part is designed by VHBL, which it generates the control and converts the serial data to parallel data. The proposed system has two test channels and it operates VFCS mode and CFVS mode. The range of test voltage is from 0[V] to 100[V], and the range of test current is from 0[mA] to 100[mA)]. The diode is tested. The test results have a good performance.