Diagnostic Test Pattern Generation for Combinational Circuits

조합회로에 대한 고장 진단 검사신호 생성

Generating diagnostic test patterns for combinational circuits remain to be a very difficult problem. For example, ISCAS85 c7552 benchmark circuit has 100 million fault pairs, Thus, we need more sophisticated algorithm to get more information. A new diagnostic algorithm for test pattern generation is suggested and implemented in this paper. DIATEST algorithm based on PODEM is also implemented for comparison to the new algorithm. These two algorithms have been applied to ISCAS85 benchmark circuits. Experimental results show that (1) both algorithms achieve fault pair coverage over 99%, (2) total test length of the new algorithm is much shorter than that of DIATEST, and (3) the new algorithm gives much more information used for making diagnostic dictionary, diagnostic decision tree or diagnostic test system despite DIATEST is faster than the new algorithm.

조합회로에 대하여 고장 진단 검사신호를 생성하는 것은 매우 어려운 문제로 남아있다. ISCAS85 c7552회로의 경우, 약 1억 개의 고장짝(Fault pair)을 가지고 있기 때문에 적은 노력과 시간을 사용하여 좀 더 많은 정보를 얻을 필요가 있다. 본 연구에서는 새로운 고장 진단 검사신호 생성 알고리즘이 제안되었고 구현되었다. 또 새로운 알고리즘과의 비교를 위하여 PODEM을 기본으로 하여 DIATEST 알고리즘을 구현하였다. 구현된 두 개의 알고리즘을 ISCAS85 회로에 적용하여 실행하였으며, 그 결과 두 개 알고리즘 모두 99%의 고장 진단율을 보였으나, 새로운 알고리즘은 각 고장의 검출 및 구별을 동시에 고려하기 때문에 고장 진단 사전과, 고장 진단 결정 트리의 제작시 더 많은 정보를 줄 수 있다. 또한 검사신호의 수를 비교했을 때 새로운 고장 진단 검사신호 생성 알고리즘이 절반이하의 개수만이 필요했다. 다만, vector 생성 속도에 있어서는 DIATEST가 우수하였다.