The Design of Technique Based on Partition for Acceleration of ATPG

ATPG 가속화를 위한 분할 기법의 설계

To test all internal faults in the case that the number of Primary Input is N, we need patterns that are composed of PI's of maximum 2N. In this paper, we proposed the method to reduce a search space by dividing the multiple output circuit into subcircuit that is related with output. And this method, called PBM(Partition-Based Method), can generate a set of test pattern. The method can effectively generate a test pattern for evaluating all fault of circuit, because the length of input pattern is smaller than that of full circuit and PBM doesn't search any signal line that is not concerned with detecting fault.

논리형 집적회로의 내부 결함을 검증하기 위해서는 설정된 초기 값을 전파하여 최종 출력 단에 나타난 값과 결함이 없을 경우의 출력 값을 비교함으로써 검증할 수 있다. 입력 단자의 수가 N인 회로에서 모든 내부신호 선의 결함을 검출하기 위해서는 최대 2N개의초기 입력 값들로 구성된 검증 패턴이 필요하다. 본 논문에서는 다 출력회로에서 2N개의 입력 패턴 중, 모든 신호선의 결함을 검출 할 수 있는 최소의 입력패턴 집합을 빠르고 정확하게 생성하기 위한 방법으로 다 출력회로를 출력과 연관된 세부회로로 분리하여 각각 검증함으로써 탐색공간을 줄이는 방법을 제안한다. 이는 입력 패턴의 길이가 상대적으로 줄어들 뿐 아니라 관련이 없는 신호 선을 탐색하지 않으므로 검증 패턴 생성 시간이 감소함으로써기존의 패턴 생성 알고리즘보다 효과적인 검증 패턴의 생성이 가능하다.