Techniques Using MUIO and shortest Path(MUSP) and Multiple Unique State (MUSS) for Aynchronizable Test Swquence Genration

동기화된 시험순서를 생성하기 위한 개선된 시험 생성 방법

A procedure presented in this paper greerates test squences to check the conformity of an implementation wihh a protocol specification which is moedled as a determinstic fimite state machine(FSM).We proposed a tech-nique to determine a minium-cost tour of the transition graph of the FSM..The technique using Multiple UIO and Shortest Path(MUSP) sabes the cost 1-9% over MUIO and directly, derive a symertric test graph from an FSM graph From this fact, we proposed a tecuque using Multiple Sate Suganture(MUSS) to solve an open issue that the multiple UIO assignment may not minimize the lengy of the tour.In this paper, the proposed techique is also, applied to generate a synchronizable test wequence.And the result shows that the techique using MUSP anhd MUSS saves the cost 7-29% and 7-42% over the previous approach using MUIO, respect-ively.

프로토콜 구현물들은 호환성 및 상호 연동성을 증가시키기 위해서 표준에 정희된 규격과 일치하는지를 시험 하여야 한다. 일반적으로 프로토콜 구현물들은 일련의 입력을 적용하여 이로 부터 얻은 출력들이 규격에서 기대하는 (expected)출력들과 일치하는지를 비교서 하는 적합성 시험을 부항한다. 본 논문에서는 최소 길이의 동기화된 시험 춘서를 생성하는 새로운 앙법 을 제안한다. 시험의 길이는 대칭테스트그래프(Symmetric test graph)의 간선(edge)의 갯수와 같다는 사실로부터 MUIO와 최단경로를 이용하는 기존의 방법과 FSM으로 부터 직접대칭테스를 구할 수 있다는 사실로부터 MUSS(multiple Unique State Singnture)를 이용하는 기존 의 방법들을 수정하여 동기화된 시험 순서를 생성하는 방법을 제안한다. 제안한 방법들은 MUIO를 이용하는 기존의 방법 보다 7-29%와 7-42% 개선된 시험 순서를 구할 수 있다.