Journal of Korean Society of Industrial and Systems Engineering (산업경영시스템학회지)
- Volume 19 Issue 40
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- Pages.91-98
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- 1996
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- 2005-0461(pISSN)
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- 2287-7975(eISSN)
Graphical Approach to Access Weak Population
불량품 적출을 위한 그래프 기법
Abstract
CMOS부품에는 양품과 불량품이 혼재되어 있는 경우가 많다. 이 경우, 부품의 신뢰성을 향상 시키기 위해서는 불량품을 제거하여야 한다. 이와 관련하여 불량품과 양품의 모수를 구하기 위해 많은 연구가 있었다. 본 논문에서는 Jasen & Petersen 기법을 Bayesian 기법의 실제 상황에 대한 적용에 대하여 연구하였다.
Keywords