The Magazine of the IEIE (전자공학회지)

The Institute of Electronics and Information Engineers (대한전자공학회)
권호 표지

차세대 반도체 메모리의 테스트 기술

  • 이화준 (삼성전자(주) 메모리본부 테스트기술) ;
  • 소병세 (삼성전자(주) 메모리본부 테스트기술)
  • Published : 1995.12.01
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