A Study on the Lifetime Prediction of Device by the Method of Bayesian Estimate

베이지안 추정법에 의한 소자의 수명 예측에 관한 연구

In this paper, Weibull distribution is applied to the lifetme distribution of a device. The method of Bayesian estimate used to estimate requiring parameter in order to predict lifetime of device using accelerated lifetime test data, namely failure time of device. The method of Bayesian estimate needs prior information in order to estimate parameter. But this paper proposed the method of parameter estimate without prior information. As stress is temperature, Arrhenius model is applied and the method of linear estimate is applied to predict lifetime of device at the state of normal operation.

본 논문은 일반적으로 채택하고 있는 소자(device)의 수명분포인 와이블(Weibull) 분포를 적용하여 소자의 가속(accelerated) 수명 테스트에서 얻은 데이터, 즉 소자의 고정 시간을 이용하여 소자의 수명을 예측(prediction)하는데 필요한 보수(parameter)들을 추정 하는데 베이지안(Bayesian) 추정법을 이용하였다. 베이지안 추정법에서 모수를 추정하기 위해서는 사전정보가 있어야 하는데 본 논문에서는 사전정보 없이 현재의 정보만을 이용하여 모수를 추정하는 방법을 제안하였다. 스트레스가 온도인 경우, Arrhenius 모델을 적용하여 소자의 정상동작 상태에서의 수명을 예측 하는데 선형 추정을 하였다.