파측정회로의 경로 활성화 지정에 과한 연구

This paper deals with the path sensitization algrithm from PI to PO center on the nodes of high testability mainstay when CUT is tested by pseudo exhaustive testing. In CUT, the node definition of high testability mainstay treats the testability values of the entire nodes with the population composed of the raw data, and after we examined the level of significance(1-a) region, we accomplished in the estimation of the confidence interval of the testability. Focusing on the defined nodes of high testability mainstay, we performed the singular cover and consistency operation to the forward and backward logic gates. Thus, we easily generated the pseudo exhausitve test patterns. As a result, (1-a) region has 0.1579 and the pseudo exhaustive test patterns are least generated and the rate of test pattern is 1.22%, compared with exhaustive testing. (1-a) region has 0.2368 and this results exhibits the optimal performance of the singular cover and consistency operation. Applying the generated pseudo exhaustive test patterns to the stuck-at faults existing on the inputs and internal nodes in CUT, we verified this performance on the output. Thus, it is confirmed that functional testing of the proposed path sensitization algorithm is very useful.

本 論文에서는 波測定回路(CUT)를 擬似-全體檢査할 때, 檢査重要度(TMY)가 높은 노드를 中心으로 P1에서 PO까지의 經路를 活性化하는 알고리즘을 提案한다. CUT의 TMY가 높은 노드들의 定義는 全體 노드들에 대한 檢査度(TY) 값을 原 데이터로 하는 母集團으로 取扱하고, 이를 t-分布에 有意水準:(1-a)域의 檢定을 통하여 TY의 信賴區間 推定에서 이루어졌다. 定義된 TMY가 높은 노드들을 中心으로 順方向과 逆方向의 論理게이트에 特異커버와 一致操作을 實行하므로 擬似-全體檢査 패턴이 容易하게 生成되었다. 그 結果, 擬似 全體檢査 패턴 數는 (1-a) 域이 0.1579에서 全體檢査에 비해 0.05%로 가장 적게 生成되었다. 그리고 (1-a) 域이 0.2368에서 特異 커버와 一致操作의 實行이 最適狀態였다. 이들 生成된 擬似-全體檢査 패턴을 回路의 入力과 內部 노드에 存在하는 缺陷 活性化 알고리즘의 技能的 檢査의 效用性을 確認하였다.