제오급와동(第五級窩洞) 수복(修復)에 사용(使用)되는 수종(數種) 충전재(充塡材)의 변연누출(邊緣漏出) 비교(比較)

COMPARISON OF THE MARGINAL LEAKAGE OF SEVERAL FILLING MATERIALS ON CLASS V CAVITIES

  • 김미옥 (경북대학교 치과대학 보존학교실) ;
  • 조규징 (경북대학교 치과대학 보존학교실)
  • Kim, Mi-Ok (Department of Conservative Dentistry Kyungpook National University School of Dentistry) ;
  • Cho, Kyew-Zeung (Department of Conservative Dentistry Kyungpook National University School of Dentistry)
  • 발행 : 1989.09.25

초록

발거된 소구치 80개의 협, 설면에 교합면쪽의 법량질변연과 치은쪽의 상아질변연을 부여한 제 5급와동을 형성한 후, 각 20개씩 4개의 군으로 나누었다. 각 군별로 초미세입자형 광중합 복합레진과 법랑질접착체인 Durafill$^{(R)}$-Durafill bond$^{(R)}$, Bisfil M$^{(R)}$-Resin bond$^{(R)}$, 초미세입자형 복합레진과 상아질 접착제인 Silux$^{(R)}$-Scotchbond$^{(R)}$ 그리고 글라스 아이오노머 시멘트인 Fuji ionomer$^{(R)}$로 충전하였다. 온도변화는 $40^{\circ}C$$60^{\circ}C$의 2% methylene blue 용액에 각각 30초간 침척을 반복시킨 후 $37^{\circ}C$ 동용액에 24시간 경과시켜 법랑질변연부와 상아질변연부에서의 색소침투를 관찰하므로써 변연누출의 정도률 비교한 바 다움과 같은 결과를 얻었다. 1. 법랑질변연부에서 Durafill$^{(R)}$-Durafill bond$^{(R)}$, Bisfil M$^{(R)}$-Resin bond$^{(R)}$ 및 Silux$^{(R)}$-Scotchbond$^{(R)}$군 상호간에는 대차가 없었으나(P>0.05), 3군 공히 Fuji ionomer$^{(R)}$군보다는 변연누출이 적었다(P<0.01). 2. 상아질변연부에서는 Silux$^{(R)}$-Scotchbond$^{(R)}$군과 Fuji ionomer$^{(R)}$군이 각각 Durafill$^{(R)}$-Durafill bond$^{(R)}$군 및 Bisfil M$^{(R)}$-Resin bond$^{(R)}$군에 비해 변연누출이 적었다(P<0.01). 3. 충전한 모든군의 5급 와동에서 법랑질변연부가 상아질변연부보다 변연누출이 적었다(P<0.01).

The purpose of the study is to evaluate the degree of the marginal leakage of class V cavities with 4 brands of esthetic filling materials by means of the dye penetration at the enamel & dentinal margins. 160 cavities of class V were prepared on the buccal & lingual surfaces of 80 extracted premolar teeth, which divided into 4 groups. The four groups of cavities were filled with Durafill$^{(R)}$-Durafill bond$^{(R)}$(KuIzer & Co GmbH), Bisfil M$^{(R)}$-Resin bond$^{(R)}$(BISCO Inc.), Silux$^{(R)}$-Scotchbond$^{(R)}$(3M Co.) and Fuji ionomer$^{(R)}$(type II, G-C Co.) each. All specimens were immersed in 2% methylene blue dye solution for 24 hours at $37^{\circ}C$ after a 30-second thermocycling at $4^{\circ}C$ and $60^{\circ}C$ and longitudinally sectioned with diamond disk into two parts. The results were as follows : 1. At enamel margins, the group filled with Durafill$^{(R)}$-Durafill bond$^{(R)}$, Bisfil M$^{(R)}$-Resin bond$^{(R)}$ and Silux$^{(R)}$-Scotchbond$^{(R)}$ show no significant difference each other(p>0.05), and the above groups show less marginal leakage comparing with the group filled with Fuji ionomer$^{(R)}$(p<0.01). 2. At dentinal margins, the group filled with Silux$^{(R)}$-Scotchbond$^{(R)}$ or Fuji ionomer$^{(R)}$ show less marginal leakage than that with Durafill$^{(R)}$-Durafill bond$^{(R)}$ or Bisfil M$^{(R)}$-Resin bond$^{(R)}$(p<0.01). 3. The enamel margins show less marginal leakage than dentinal margins in all the class V cavities(p<0.01).

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