한국정밀공학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference)

한국정밀공학회 2013년도 춘계학술대회 논문집
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Pages.1259-1260
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2013
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2005-8446(pISSN)

한국정밀공학회 (Korean Society for Precision Engineering)

권호 표지

eFuse Pin 을 고려한 Wafer 전기적 특성검사의 개선에 관한 연구

A Study on Wafer-level Electrical Test for eFuse Pin

하치환 (삼성전자 공과대학교 반도체 공학부) ;
장연봉 (삼성전자) ;
이종학 (삼성전자) ;
함상식 (삼성전자)

발행 : 2013.05.29

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