EM Analysis Applied for Unclonnable PUF Modeling

복제 방지용 PUF 모델링을 적용한 전자계 해석

  • Kim, Tae Yong (Division of Information and Computer Engineering, Dongseo University) ;
  • Lee, Hoon-jae (Division of Information and Computer Engineering, Dongseo University)
  • 김태용 (동서대학교 컴퓨터정보공학부) ;
  • 이훈재 (동서대학교 컴퓨터정보공학부)
  • Published : 2012.10.26

Abstract

In this research, the application of PUF modeling which is configured to be doped oxide material on Si substrate and this oxide material is to prevent corrosion of the security chip device. It is to design device replication technology through applying the electromagnetic formulation and its analysis of a device and find ways to PUF design.

본 연구에서는 암호 칩의 부식방지를 위해 Si 기판위에 도핑된 산화물질로 구성된 복제 방지용 PUF 모델링 적용을 고려하였다. 이를 통하여 디바이스의 전자계 해석을 위한 정식화 방안을 모색하고 디바이스 복제기술에 대응할 수 있는 안전한 PUF를 설계하였다.

Keywords