Design of a wide and uniformly illuminating optical system for wafer bonding inspection

웨이퍼 본딩 검사를 위한 대면적 균일 조영 광학계 설계

  • 김진환 (한국과학기술원 기계공학과) ;
  • 권원식 (한국과학기술원 기계공학과) ;
  • 이형철 (한국과학기술원 기계공학과) ;
  • 김경수 (한국과학기술원 기계공학과) ;
  • 김수현 (한국과학기술원 기계공학과)
  • Published : 2011.06.01