전자부품의 고속 외관검사를 위한 시스템 설계

System design for high-speed inspection of electronic elements

  • 유승열 (한국기술교육대학교 기계정보공학부) ;
  • 주병윤 (한국기술교육대학교 기계정보공학부) ;
  • 윤종근 (한국기술교육대학교 기계정보공학부)
  • 발행 : 2011.06.01