MCP를 위한 Cu/Sn/Cu 범프의 계면미세구조가 신뢰성에 미치는 영향

Effect of Interfacial Microstructures on Reliability of Cu/Sn/Cu Bump for Multi-Chip Package

  • 정명혁 (안동대학교 신소재공학부 청정소재기술연구센터) ;
  • 김재원 (안동대학교 신소재공학부 청정소재기술연구센터) ;
  • 곽병현 (안동대학교 신소재공학부 청정소재기술연구센터) ;
  • 박영배 (안동대학교 신소재공학부 청정소재기술연구센터)
  • 발행 : 2010.05.26