Automatic Compensation System for RF System-On-Chip Applications

고주파 시스템-온-칩 응용을 위한 자동 보상 시스템

  • 류지열 (부경대학교 정보통신공학과) ;
  • 노석호 (안동대학교 전자공학과) ;
  • 김성우 (부경대학교 정보통신공학과) ;
  • 박승훈 (부경대학교 정보통신공학과) ;
  • 이정훈 (부경대학교 정보통신공학과)
  • Published : 2010.10.27

Abstract

본 논문은 고주파 시스템-온-칩 응용을 위한 자동 보상 시스템을 제안한다. 이러한 시스템은 고주파 회로 칩 제작과정에서 예기치 않게 발생한 미세한 PVT(공정, 전압, 온도) 변동으로 인한 회로 성능 변수들의 미세변동을 검출하여 이를 자동으로 보상한다. 자동으로 보상 가능한 고주파 회로 성능 변수들은 중요한 요소인 입력 임피던스, 전압이득 및 잡음지수를 포함한다. 이러한 시스템은 미세 변동을 자동으로 보상할 수 있도록 고주파 신호를 직류 신호로 변환하는 DFT(Design-for-Testability) 회로를 포함한다.

Keywords