Characterization of Al-doped ZnO thin film grown on buffer layer with RF magnetron sputtering method

  • 노영수 (한국과학기술연구원 재료기술연구본부장실) ;
  • 이상엽 (한국과학기술연구원 재료기술연구본부장실) ;
  • 김태환 (한양대학교 전자전기컴퓨터학부) ;
  • 최원국 (한국과학기술연구원 재료기술연구본부장실)
  • 발행 : 2009.02.11