한국진공학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference)
- 한국진공학회 2009년도 제37회 하계학술대회 초록집
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- Pages.211-211
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- 2009
Thickness dependence of electrical properties in charge trap flash (CTF) memory with $HfO_2$ trap and $Al_2O_3$ blacking layer
- 발행 : 2009.08.19