Near-field Photoluminescence Measurements of Single GaAs Quantum Dots Using a Low Temperature Near-field Scanning Optical Microscope

저온 근접장 광학 현미경을 이용한 단일 GaAs 양자점의 형광 측정

  • 임상엽 (광주과학기술원 고등광기술연구소) ;
  • 김종수 (광주과학기술원 고등광기술연구소) ;
  • 김용환 (광주과학기술원 고등광기술연구소) ;
  • 변지수 (광주과학기술원 고등광기술연구소) ;
  • 정문석 (광주과학기술원 고등광기술연구소)
  • Published : 2009.02.12