Command compensation filter를 이용한 scanning probe microscopy용 PZT구동 2축 나노 스캐너의 진동제어

Vibration reduction control of 2-D nano scanner with displacement amplifier mechanism driven by PZT for scanning probe microscopy (SPM)

  • 정종규 (광주과학기술원 기전공학과) ;
  • 염우섭 (광주과학기술원 기전공학과) ;
  • 박기환 (광주과학기술원 기전공학과)
  • 발행 : 2009.06.03