TEM 분석 기법을 이용한 Cu확산 현상에 대한 연구

  • 김가영 ((주)하이닉스반도체 연구소) ;
  • 연태원 ((주)하이닉스반도체 연구소) ;
  • 이주희 ((주)하이닉스반도체 연구소) ;
  • 유종희 ((주)하이닉스반도체 연구소) ;
  • 오준석 ((주)하이닉스반도체 연구소) ;
  • 박형순 ((주)하이닉스반도체 연구소) ;
  • 김원 ((주)하이닉스반도체 연구소) ;
  • 김호정 ((주)하이닉스반도체 연구소) ;
  • 이순영 ((주)하이닉스반도체 연구소)
  • Published : 2008.08.20