Prediction of Demolding-defects in Nanoimprint Lithography Using FEM Simulation

FEM 을 이용한 나노임프린트 공정의 디몰딩 결함 연구

  • 손지원 (서울대학교 기계항공공학부) ;
  • 송남호 (서울대학교 기계항공공학부) ;
  • 오수익 (서울대학교 기계항공공학부)
  • Published : 2008.06.11