Proceedings of the Optical Society of Korea Conference (한국광학회:학술대회논문집)
- 2008.07a
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- Pages.255-256
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- 2008
Analysis of Electrical and Optical Characteristics of Doped Silicon using THz Ellipsometry
테라헤르츠 엘립소메트리를 이용한 도핑된 실리콘의 전기적 광학적 물성 분석
Abstract
Keywords