Heat treatment effect on metal electrodes of thin film embedded decoupling capacitor

  • 이승은 (삼성전기 중앙연구소 PKG팀) ;
  • 송병익 (삼성전기 중앙연구소 PKG팀) ;
  • 이정원 (삼성전기 중앙연구소 PKG팀) ;
  • 이인형 (삼성전기 중아연구소 분석G)
  • Published : 2007.11.02