A NAND Flash Controller with Efficient Error Detection Unit

효율적인 오류검출 방식의 낸드 플래시 컨트롤러

  • Published : 2007.10.26

Abstract

Recently, Nand flash memory is widely used for digital equipments and its capacity and performance are rapidly improving. The limit on the number of writings and readings to/from Nand flash memory does not guarantee the integrity of its data. Therefore, ECC algorithm should be applied to the Nand flash controller. To reduce the access time, we use the look-up table to implement the ECC algorithm instead of the conventional logic gates.

낸드 플래시 메모리는 최근 많은 디지털 기기에서 사용되고 있으며 그 용량과 성능면에서의 발전이 급격이 이루어지고 있다. 낸드 플래시 메모리는 읽고 쓰기 회수에 제한이 있어 이 수명이 다하면 데이터의 신뢰성을 보장하기 어렵다. 이 때문에 낸드 플래시 데이터의 오류를 검출하는 ECC(Error Correction Code) 알고리즘의 적용이 필수적이다. 기존에는 ECC 알고리즘을 논리 게이트로 구현하였으나 본 논문에서는 룩업 테이블 방식을 사용하여 신뢰성과 데이터 처리 시간을 향상시키고자 한다.

Keywords