Developing Micro device of Measurement Stage for TEM

투과전자현미경용 시료 측정 스테이지 미세부품 개발

  • 국명호 (한국기초과학지원연구원 초정밀가공팀) ;
  • 이상용 (한국기초과학지원연구원 초정밀가공팀) ;
  • 김효식 (한국기초과학지원연구원 초정밀가공팀) ;
  • 양순철 (한국기초과학지원연구원 초정밀가공팀) ;
  • 김건희 (한국기초과학지원연구원 초정밀가공팀) ;
  • 김윤중 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부)
  • Published : 2007.06.20