Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 2006.07d
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- Pages.2049-2050
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- 2006
Development of Surface Fault Detection Algorithm for Real Time Processing
실시간 적용을 위한 선재 흠 탐상 알고리즘의 개발
- Park, Young-Su (Division of Electrical and Computer Engineering, POSTECH) ;
- Yun, Jong-Pil (Division of Electrical and Computer Engineering, POSTECH) ;
- Seo, Bo-Yeul (Division of Electrical and Computer Engineering, POSTECH) ;
- Kim, Sang-Woo (Division of Electrical and Computer Engineering, POSTECH)
- 박영수 (포항공과대학교 전자전기 공학과 지능제어시스템 연구실) ;
- 윤종필 (포항공과대학교 전자전기 공학과 지능제어시스템 연구실) ;
- 서보열 (포항공과대학교 전자전기 공학과 지능제어시스템 연구실) ;
- 김상우 (포항공과대학교 전자전기 공학과 지능제어시스템 연구실)
- Published : 2006.07.12
Abstract
최근 제품의 품질 향상과 생산력 제고를 위해 제조업 분야에서의 결함 검출 시스템의 자동화에 대한 필요성이 커지고 있다. 또한 많은 회사들이 자동 흠 검출 시스템을 도입하여 판재나 모직 등의 흠 검출에 사용하고 있다. 그러나 철강 제조업에서 선재의 흠 검출은 이전에 많이 시도된바 있는 판재 등의 흠 검출보다 극복해야할 과제가 많다. 우선 선재의 특성상 조명이 일정하더라도 각 부분의 밝기가 다르고, 선재가 이동하거나 선재의 굵기가 달라지면 카메라에서 관측되는 부위의 밝기가 달라진다. 따라서 선재의 흠 검출 시스템에서는 이들의 영향을 극복하고 제품의 결함을 판별할 수 있는 알고리즘이 요구된다. 또한 선재의 이동속도는 최고 18m/s에 이르기 때문에 실시간으로 흠을 검출하기 위해서는 알고리즘이 간단하고 효율적이어야 한다. 본 논문에서는 이러한 문제를 극복하고 선재의 흠을 자동 검출하기 위한 알고리즘을 제시한다.
Keywords