Silicon 기판의 방향과 표면 roughness 변화를 통한 Atomic Layer Etching 메커니즘의 연구

The Study of Atomic Layer Etching Mechanism using Substrate Orientation of Si and Variation of Surface Roughness

  • 오창권 (성균관대학교 신소재공학과) ;
  • 박상덕 (성균관대학교 신소재공학과) ;
  • 염근영 (성균관대학교 신소재공학과)
  • 발행 : 2005.11.04