한국전기전자재료학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference)
- 한국전기전자재료학회 2005년도 추계학술대회 논문집 Vol.18
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- Pages.254-255
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- 2005
PIB법을 이용한 대면적 $HgI_2$ 검출기의 I-V 특성평가
I-V Measurements of large area $HgI_2$ X-ray detector produced by PIB method
- 김경진 (인제대학교 의용공학과) ;
- 박지군 (인제대학교 의용공학과) ;
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강상식
(인제대학교 의용공학과) ;
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차병열
(인제대학교 의용공학과) ;
- 조성호 (인제대학교 의용공학과) ;
- 신정욱 (인제대학교 의용공학과) ;
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문치웅
(인제대학교 방사선영상 연구실) ;
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남상희
(인제대학교 방사선영상 연구실) ;
- Kim, Kyung-Jin (Inje Uni. dept. BME) ;
- Park, Ji-Koon (Inje Uni. dept. BME) ;
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Kang, Sang-Sik
(Inje Uni. dept. BME) ;
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Cha, Byung-Youl
(Inje Uni. dept. BME) ;
- Cho, Sung-Ho (Inje Uni. dept. BME) ;
- Sin, Jeong-Uk (Inje Uni. dept. BME) ;
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Mun, Chi-Ung
(Inje Uni. Radiation image lab.) ;
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Nam, Sang-Hee
(Inje Uni. Radiation image lab.) ;
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Kim, Jin-Yung
(Inje Uni. dept. BME)
- 발행 : 2005.11.10
초록
In this paper, we investigated electrical characteristics of the X-ray detector of mercuric iodide (HgI2) film fabricated by PIB(Particle-in-Binder) Method on ITO substrates 17cm