XRR을 이용한 ALD HfxAlyOz 박막의 물성 변화 관찰

  • 이태권 (하이닉스 반도체(주) 메모리연구소 분석개발팀) ;
  • 홍태은 (하이닉스 반도체(주) 메모리연구소 분석개발팀) ;
  • 이주희 (하이닉스 반도체(주) 메모리연구소 분석개발팀) ;
  • 박윤백 (하이닉스 반도체(주) 메모리연구소 분석개발팀) ;
  • 이순영 (하이닉스 반도체(주) 메모리연구소 분석개발팀) ;
  • 홍권 (하이닉스 반도체(주) 선행공정 3팀) ;
  • 길덕신 (하이닉스 반도체(주) 선행공정 3팀)
  • Published : 2004.08.19