Proceedings of the Optical Society of Korea Conference (한국광학회:학술대회논문집)
- 2004.07a
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- Pages.132-133
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- 2004
Double layer AR coating for Semiconductor Laser with In-Situ Monitoring dual wavelength ellipsometer
실시간 모니터링이 가능한 두 파장 타원 해석기를 사용하여 반도체 레이저의 두 층 무반사 박막 제작
Abstract
Keywords