Optical Heterodyne Scanning Microinterferometry for Optical Field Characterization in Micro-Optic Components

주사형 광탐침 헤테로다인 간섭계를 이용한 미세광학소자 광파 분포 측정

  • 이재용 (한국표준과학연구원 광기술표준부) ;
  • 이윤우 (한국표준과학연구원 광기술표준부) ;
  • 이은성 (인제대학교 광공학과) ;
  • 한재원 (연세대학교 기계공학부)
  • Published : 2004.07.08