Proceedings of the Optical Society of Korea Conference (한국광학회:학술대회논문집)
- 2003.02a
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- Pages.78-79
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- 2003
Optimum Growth Condition of Phase Change GeSbTe Thin Films as an Optical Recording Medium using in situ Ellipsometry
In situ 타원법을 사용한 광기록매체용 GeSbTe 박막의 최적성장조건 연구
Abstract
타원법(ellipsometry)을 사용하여 광기록 매체용 Ge
Keywords