Proceedings of the IEEK Conference (대한전자공학회:학술대회논문집)

The Institute of Electronics and Information Engineers (대한전자공학회)
권호 표지

Separate Bulk Modeling and effect to reduce Simultaneous Switching Noise in CMOS Driver Loading Conditions

CMOS 드라이버 구동상태에서 SSN을 줄이기 위한 Separate Bulk Modeling 및 효과

  • Choi, Sung-Il (Dept. of Electronic Engineering, Hallym University) ;
  • Wee, Jae-Kyung (Dept. of Electronic Engineering, Hallym University) ;
  • Moon, Gyu (Dept. of Electronic Engineering, Hallym University)
  • 최성일 (한림대학교 전자공학과) ;
  • 위재경 (한림대학교 전자공학과) ;
  • 문규 (한림대학교 전자공학과)
  • Published : 2003.07.01
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Abstract

SSN을 줄이기 위해 벌크단의 그라운드와 소스단의 그라운드를 분리한다. 이 방법을 사용하면 소스과 벌크의 전압 차이가 발생하는데 소스에 발생되는 전압은 기생인덕턴스로 인해 노이즈 전압이되고 벌크의 전압은 그라운드에 바로 연결되기 때문에 0V가 된다. 이 방법을 사용하면 소스단에 기생인덕턴스가 벌크단에 미치지 못하게 되어 노이즈를 줄일 수 있다.. 본 논문에서 나타난 결과는 공통그라운드를 사용한 구동 드라이버 보다 SSN을 10% 간단히 줄일수 있다.

Keywords