대한전기학회:학술대회논문집 (Proceedings of the KIEE Conference)
- 대한전기학회 2003년도 하계학술대회 논문집 C
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- Pages.1785-1787
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- 2003
전력계통용 대용량 사이리스터의 가속열화 시험법
Accelerated Deterioration Test Method of High Power Thyristor for HVDC
- 서길수 (한국전기연구원, 전력반도체그룹) ;
- 김상철 (한국전기연구원, 전력반도체그룹) ;
- 김형우 (한국전기연구원, 전력반도체그룹) ;
- 김남균 (한국전기연구원, 전력반도체그룹) ;
- 김은동 (한국전기연구원, 전력반도체그룹)
- Seo, K.S. (Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute) ;
- Kim, S.C. (Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute) ;
- Kim, N.K. (Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute) ;
- Kim, H.W. (Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute) ;
- Kim, E.D. (Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute)
- 발행 : 2003.07.21