대한전기학회:학술대회논문집 (Proceedings of the KIEE Conference)
- 대한전기학회 2003년도 하계학술대회 논문집 C
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- Pages.1785-1787
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- 2003
전력계통용 대용량 사이리스터의 가속열화 시험법
Accelerated Deterioration Test Method of High Power Thyristor for HVDC
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서길수
(한국전기연구원, 전력반도체그룹) ;
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김상철
(한국전기연구원, 전력반도체그룹) ;
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김형우
(한국전기연구원, 전력반도체그룹) ;
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김남균
(한국전기연구원, 전력반도체그룹) ;
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김은동
(한국전기연구원, 전력반도체그룹)
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Seo, K.S.
(Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute) ;
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Kim, S.C.
(Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute) ;
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Kim, N.K.
(Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute) ;
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Kim, H.W.
(Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute) ;
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Kim, E.D.
(Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute)
- 발행 : 2003.07.21