대한전기학회:학술대회논문집 (Proceedings of the KIEE Conference)
- 대한전기학회 2003년도 하계학술대회 논문집 D
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- Pages.2678-2680
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- 2003
Sliding-DFT를 이용한 다채널 위상 측정 FPGA 시스템
Multi-channel phase measurement system based on the recursive implementation of sliding DFT on FPGA
- Ahn, Byoung-Sun (School of Electrical and Electronics Engineering, Chung-Ang University) ;
- Jung, Sun-Yong (School of Electrical and Electronics Engineering, Chung-Ang University) ;
- Lee, Jae-Sik (School of Electrical and Electronics Engineering, Chung-Ang University) ;
- Chang, Tae-Gyu (School of Electrical and Electronics Engineering, Chung-Ang University)
- 발행 : 2003.07.21
초록
본 논문에서는 sliding-DFT의 순환구현을 기반한 실시간 위상 측정 앨고리즘을 제시하였다. 종래의 순환형 SDFT 기반 위상 측정 기법은 단일 계수를 사용하기 때문에 계수 근사가 적용되는 하드웨어 구현시 심각한 오차 파급 특성을 나타낸다. 본 논문에서는 순환 구조이면서 회전 위상을 보정을 통해 N-point DFT의 N개의 모든 계수를 적용한 위상 측정 기법을 제시하였고, FPGA 등 하드웨어 구현에 있어서 계수의 유한 비트 근사에 따르는 성능 열화를 해석하였다. 제안한 위상측정 앨고리즘은 실시간 다채널 위상 측정이 가능하도록 FPGA에 구현하였고 동작을 확인하였다.
키워드