한국전자현미경학회:학술대회논문집

2002.11a
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Pages.49-53
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2002

Korean Society of Microscopy (한국현미경학회)

권호 표지

Preparation of Noise(Si K Peak) Free FIB-TEM Sample for EDS Analysis

최진태 ((주)하이닉스 반도체 메모리(연) 분석개발팀) ;
김종협 ((주)하이닉스 반도체 메모리(연) 분석개발팀) ;
최근영 ((주)하이닉스 반도체 메모리(연) 분석개발팀) ;
박주철 ((주)하이닉스 반도체 메모리(연) 분석개발팀) ;
이순영 ((주)하이닉스 반도체 메모리(연) 분석개발팀)

Published : 2002.11.01

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