Proceedings of the Optical Society of Korea Conference (한국광학회:학술대회논문집)

Optical Society of Korea (한국광학회)
권호 표지

Measurement of TE/TM Polarization Dependency of Silica MMI Couplers

실리카 다중모드 간섭기에 대한 TE/TM 분극 의존도 측정

  • 전진우 (한양대학교 전자전기컴퓨터공학부 광전자 연구실) ;
  • 홍종균 (한양대학교 전자전기컴퓨터공학부 광전자 연구) ;
  • 곽수진 (한양대학교 전자전기컴퓨터공학부 광전자 연구) ;
  • 이상선 (한양) ;
  • 이두한 (리트로닉스)
  • Published : 2002.07.01
Download PDF
⟨ Previous Next ⟩

Abstract

광소자 설계 시 TE/TM 분극에 대한 민감도는 매우 중요한 요소로 작용을 한다. 이러한 민감도를 줄이기 위해 많은 광소자에 다중모드 간섭기가 이용되고 있다. 다중모드 간섭기에 입력되는 신호는 TE와 TM 두 모드의 분극으로 이루어져 있으며, 각각은 도파로 내에 존재하는 모드에 실려 50：50의 파워 분배를 가지고 진행하게 된다. 그러므로 광소자를 제작하기 위해 TE 또는 TM 모드만을 고려하는 것은 소자의 효율을 떨어뜨리는 요인으로 작용한다. (중략)

Keywords