Proceedings of the Optical Society of Korea Conference (한국광학회:학술대회논문집)

Optical Society of Korea (한국광학회)
권호 표지

Near-field mode Profile measurement of waveguides using a nano-aperture scanning technique

나노 분해능 주사 기술을 이용한 광도파로의 근접장 모드 측정

  • 육영춘 (광주과학기술원 정보통신공학과 초고속광통신 및 광측정 연구실) ;
  • 박건욱 (광주과학기술원 정보통신공학과 초고속광통신 및 광측정 연구) ;
  • 박용우 (광주과학기술원 정보통신공학과 초고속광통신 및 광측정 연구) ;
  • 성낙현 (광주과학기술원 정보통신공학과 초고속광통신 및 광측정 연구) ;
  • 김덕영 (광주과학기술원 정보통신공학과 초고속광통신 및 광측정 연구실)
  • Published : 2001.02.01
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Abstract

일반적으로 weakly guiding되는 waveguide의 mode field profile을 측정하기 위해서는 CCD 카메라와 imaging lens를 사용하여 field distribution을 측정한다. 하지만, 이러한 방법은 빛의 회절한계 현상 때문에 특수 광섬유에서 guiding되는 빛을 높은 분해능으로 측정 할 수 없다는 단점이 있다. 따라서 빛의 회절현상을 극복하기 위해서는 빛이 회절 되기 전의 근접장 영역에서 mode field profile을 측정하는 방법이 필요하다. (중략)

Keywords